手持式/便携式/台式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪能够对固体、粉末、液体等样品进行定性和定量分析，检测范围从Na-U，分析浓度从100％－亚ppm级。
通过对粉末、单晶或多晶体等块体材料等样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息，是目前研究物质的物相和晶体结构最有力的方法。
测量镀层厚度为什么如此重要？测量镀层厚度可以帮您降低物料成本，响应重要的工业标准，并能维护您在行业中的声誉。无论是在生产过程中的检测还是对来料进行检验，都是如此。 99905银河官方网站系列镀层分析仪致力于为您提供专业的涂镀层分析解决方案，仪器具有手持式、便携式、台式等型号，可根据您的需求对光束尺寸、探测器、准直器配置，以满足您的镀层要求，镀层分析仪适用于定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。
可对各种固态、液态、气态物质的分子组成、结构及相对含量等进行分析，实现对物质的鉴别与定性，亦可与其他技术结合相互应用，更高效地确定样品的种类和结构。
99905银河官方网站物联网数据传输+大数据+信息化软件,为客户打造智能在线监测解决方案，无需人员值守，轻松实现实时连续检测/监测和远程监控。
可对铝基、镁基等金属材料进行现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定，被广泛应用于工业生产、材料鉴定、回收及分拣等领域。
